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三坐標(biāo)測量機(jī)從接觸式到非接觸式的發(fā)展歷程

發(fā)布者：東莞市嘉騰儀器儀表有限公司日期：2013年08月16日

三坐標(biāo)測量儀有接觸式和非接觸式兩種類型，非接觸式三坐標(biāo)測量機(jī)是在接觸式三坐標(biāo)測量機(jī)基礎(chǔ)上發(fā)展起來，現(xiàn)在我們來了解下他們的發(fā)展歷程。

接觸式三坐標(biāo)測量機(jī)，它是通過探針碰觸產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)自動測量，它的優(yōu)勢是可以自動測量，減少人為誤差，對于大尺寸的產(chǎn)品編程序并實(shí)現(xiàn)批量測量。但是問題是接觸式測量只能對面及柱、錐、球等幾何實(shí)體進(jìn)行測量，而且探針在使用之前必須根據(jù)零件被測的特征大小進(jìn)行選擇，校準(zhǔn)后才能使用。

在接觸式三坐標(biāo)的測量程序自動運(yùn)行中，必須一點(diǎn)一點(diǎn)地碰觸，經(jīng)歷趨近，碰點(diǎn)，回彈的過程，不僅耗時(shí)，而且必須具備安全空間才可以使用。探針的針徑最小直徑在0.3mm以內(nèi)，在編程時(shí)就已經(jīng)很困難了，而且探針容易發(fā)生碰撞的事故。那么薄壁、易變形的產(chǎn)品就更加不能碰觸了。

隨著精密和維細(xì)制造的數(shù)字化水平的發(fā)展，產(chǎn)品集成化大勢所趨，微小產(chǎn)品的快速高精度測量成為業(yè)界日益緊迫的任務(wù)。接觸式三坐標(biāo)測量儀能夠?qū)崿F(xiàn)自動測量已經(jīng)無法完全滿足要求。

隨著光學(xué)、機(jī)械、電子等技術(shù)的發(fā)展和高度融合，三維光學(xué)測量儀器和多元傳感的三維光學(xué)測量儀器應(yīng)運(yùn)而生了。

三維光學(xué)測量儀器優(yōu)異的影像識別能力使得全自動測量成為可能。批量的產(chǎn)品數(shù)百數(shù)據(jù)可以通過按一個(gè)按鈕實(shí)現(xiàn)自動測量和自動輸出結(jié)果，改變傳統(tǒng)的依靠經(jīng)驗(yàn)的手動測量方式，使自動測量的重復(fù)性控制在微米級，極大程度地提高檢測水平，促進(jìn)制造品質(zhì)的提高。

從三坐標(biāo)測量機(jī)的發(fā)展歷程得出這樣的結(jié)論，隨著現(xiàn)代工業(yè)的發(fā)展，在不久的將來，必然會出現(xiàn)比非接觸式三坐標(biāo)測量機(jī)機(jī)更加先進(jìn)的儀器。但絲毫不影響，非接觸式三坐標(biāo)測量機(jī)在目前階段精密測量儀器行業(yè)中的至尊地位。

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